Trabajo de uesebistas en el área de microelectrónica es el más descargado
El trabajo de los profesores uesebistas Adelmo Ortiz Conde y Francisco García Sánchez, y sus coautores J. J. Liou, A. Cerdeira, M. Estrada y Y. Yue, fue la publicación más descargada en los últimos noventa días relacionada con confiabilidad en el área de microelectrónica. El Decanato de Investigación y Desarrollo informó que tras catorce años…